تفاصيل الوثيقة نوع الوثيقة : مقال في مؤتمر  عنوان الوثيقة : استخدام مطيافية الالكترون لدراسة مركبات نحاس التلوريوم الزجاجية Photoelectron Spectroscopy of Copper Tellurite Glass Surfaces   الموضوع : الكيمياء و كيمياء الأرض  لغة الوثيقة : العربية  المستخلص : تم تحضير مواد زجاجية ذات التركيب الكيميائي xCuO-(1-x)TeO2 حيث أن قيم x = 0,30 ، 0,40 و 0,50 وتم دراسة هذه العينات بواسطة مطيافية أشعة إكس (XPS). لقد تم قياس الأطياف الناتجة من عنصر النحاس Cu 2P وعنصر التيلوريوم Te 3d وعنصر الأكسجين O 1s. ظهور إشارة " Satellite" في طيف Cu 2P يدل عن وجود أيونات كل من Cu2+ في هذه المواد. تم مقاربة (fitting) إشارة Cu 2p3/2 بقمتي فرق طاقة الربط بينهما 2 eV ، والقمة ذات طاقة الربط الأقل ترافقاً Cu+ بينما القمة ذات طاقة الربط الأكبر ترافقاً Cu2+. تم تحديد نسبة كمية Cu2+ عن طريق حساب مساحة القمم لإشارة Cu+ و Cu+ وكانت نسبة Cu2+ /Cu تتراوح بين 40% عندما x= 30%. كان خط طيف الأكسجين (O 1s) 1s غير متناظر في كل العينات ولذلك تم مقاربة الإشارة بمساهمتين، الأولى من ذرات الأكسجين المقنطر (BO) والثانية من الأكسجين غير المقنطر (NBO). الأكسجين المقنطر ناتج عن ذرات الأكسجين الموجودة في التركيب Te-O-Te والأكسجين غير المقنطر ناتج عن ذرات الأكسجين الموجودة في التركيب Cu-O-Te. تم تحديد نسبة الأكسجين غير المقنطر في العينات ووجد أنه متناسب مع الكمية المحسوبة نظرياً. وجد أن طيف إشارة Te 2d متناظرة مما يدل على أن المحيط الكيميائي حول ذرات التيلوريوم لم يتغير مع تغير قيم x.  اسم المؤتمر : المؤتمر السعودي الثاني للعلوم  الفترة : من : 24محرم هـ - إلى : 26محرم هـ من : 15مارس م - إلى : 17مارس م  سنة النشر : 1425 هـ 2004 م  عدد الصفحات : 12  نوع المقالة : مقالة علمية  مكان الانعقاد : كلية العلوم  الجهة المنظمة : جامعة الملك عبد العزيز  تاريخ الاضافة على الموقع : Saturday, January 17, 2009  الباحثون اسم الباحث (عربي) اسم الباحث (انجليزي) نوع الباحث المرتبة العلمية البريد الالكتروني ع مكي MEKKI, N/A باحث رئيسي     ج ختاك KHATTAK, N/A باحث مشارك     الملفات اسم الملف النوع الوصف  40.pdf pdf   الرجوع إلى صفحة الأبحاث